Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия
Автор:
Жанр:
Год написания книги: 2018
Тэги:
В курсе лекций изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции: схема отражения по Брэггу и Лауэ. Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для более полного усвоения материала приводится большой объем иллюстраций.
На сайте электронной библиотеки Litportal вы можете скачать книгу Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия в формате fb2.zip, txt, txt.zip, rtf.zip, a4.pdf, a6.pdf, mobi.prc, epub, ios.epub, fb3. У нас можно прочитать отзывы и рецензии о этом произведении.
