Последний отзыв
Это скорее приключение, чем история. Но читать приятно.
По всем вопросам обращайтесь на: info@litportal.ru
(©) 2003-2024.
✖
Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
Автор
Жанр
Год написания книги
2014
В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.
На сайте электронной библиотеки Litportal вы можете скачать книгу Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств в формате fb2, rtf, pdf, txt, epub. У нас можно прочитать отзывы и рецензии о этом произведении.
Скачать книгу в форматах
Помогите, пожалуйста, другим читателям нашего сайта, оставьте отзыв или рецензию о прочитанной книге.
Спасибо! Ваш отзыв был отправлен на модерацию.
Отзывы о книге Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
список сообщений пуст
Последний отзыв
Это скорее приключение, чем история. Но читать приятно.