Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств

Автор

И. О. Атовмян

Жанр

Математика

Серия

Прикладная информатика. Научные статьи

Год написания книги

2014

Теги

цифровые технологии , тестирование , модели и методики , алгоритмы

В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.

На сайте электронной библиотеки Litportal вы можете скачать книгу Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств в формате fb2, rtf, pdf, txt, epub. У нас можно прочитать отзывы и рецензии о этом произведении.